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菲希尔测厚仪台式XDV-SDD

XDV-SDD

XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能较强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm²的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外,仪器还配备了各种不同的滤波片,从而能为不同的测量任务建立优化的激发条件。


特点:

·         配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器(SDD),能高精度地测量较薄的镀层

·         耐用的设计结构,能以出色的长期稳定性用于连续测量

·         可编程XY平台和Z轴,用于自动化连续测量

·         拥有实时的视频显示和辅助激光点,使得样品定位变得快速而简便

应用:

镀层厚度测量

·         测量薄镀层,如电子和半导体产业中厚度小于0.1umAuPd镀层

·         测量汽车制造业中的硬质涂层

·         光伏产业中的镀层厚度测量

材料分析

·         电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质(如重金属)进行鉴别

·         分析黄金和其他贵金属及其合金

·         测定功能性镀层的组分,如NiP镀层中的P含量